Odaklanış iyon demeti (FIB) kesitlemesi ile diş dokularına ait içyapıların mikro/nano-analizi

Official URL: http://dx.doi.org/10.16984/saufenbilder.284224

Bilim ve teknoloji alanlarındaki hızlı gelişmeler, görüntüleme ve kimyasal analiz için çok hassas ve kesin sonuçlara ulaşan elektron mikroskoplarının kullanım gereksinimi de beraberinde getirmektedir. Özellikle ülkemiz için yeni bir teknoloji olan odaklanmış iyon demeti (FIB) farklı bilim dalları için bölgesel içyapı analizi, görüntüleme, aşındırma, depolama, mikroişleme, prototipleme gibi farklı işlemleri eşzamanlı yürütebilen yaygın ve pratik bir yöntemdir. Diş dokularının sert ve kırılgan olmasından kaynaklı olarak bu malzemelerin ultramikrotomi veya diğer metotlarla kesitlenmesi ve bunu takiben içyapılarının detaylı analizi, mekanik kesici aletlerin dayanımı yetersiz kaldığından problem yaratmaktadır. Bu tür malzemelerin mikroyapılarının iki ve üç boyutta özellikle bölgesel ve istenilen geometride incelenmesi için FIB-SEM çift demet platformların kullanılması en uygun çözümdür. Çift demet platformlarında bulunan FEG-SEM kolonları iyon prosesleriyle eşzamanlı olarak yüz binlerce kez büyütmelere ve 1-2 nm çözünürlüğe varabilen görüntüleme ve elementer analiz imkânı sağlamaktadır. Bu çalışmada, FIB-SEM platformlarının kullanılması sayesinde dentin ve mine tabakaları gibi farklı özelliklerdeki diş dokularının içyapılarındaki mikro-/nano-yapısal farklılıkların yüksek hassasiyette tespiti sağlanmıştır. Farklı morfoloji ve kimyasal bileşene sahip diş dokularının içyapılarının iyon-kesitlemesi ile incelenmesi Türkiye’deki diş hekimliği çalışmalarında FIB-SEM platformlarının aktif kullanılması için bir başlangıç çalışmasıdır ve özgün değer taşımaktadır.